中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所机构知识库
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铂黑及其制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN104416164B, 申请日期: 2017-01-04,
朱国青;  汪冬红;  张玥薇;  陈韦;  张锦平
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一种制备氮化硼单晶的装置及方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103541000B, 申请日期: 2016-09-07,
黄俊;  徐科;  王建峰;  任国强
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晶体生长炉 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103184514B, 申请日期: 2016-07-06,
王劼;  张立国;  范亚明;  张泽洪
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透射电子显微镜物镜光阑 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103198994B, 申请日期: 2016-06-22,
牛牧童;  吴东昌;  张锦平;  黄凯;  张燚;  董晓鸣;  曾雄辉;  徐科
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样品位错的扫描透射电镜成像方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103175856B, 申请日期: 2015-09-09,
牛牧童1;  吴东昌1;  张锦平1;  黄凯1;  张燚1;  董晓鸣1;  曾雄辉1;  徐科1
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石墨烯的制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103172059B, 申请日期: 2015-09-09,
张竞存1;  钟海舰1;  徐科1
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透射电镜用微纳颗粒样品载网贮存装置以及样品制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103196719B, 申请日期: 2015-08-05,
吴东昌1;  牛牧童1;  张锦平1;  黄凯1;  张燚1;  董晓鸣1;  曾雄辉1;  徐科1
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纳米流体二极管及其制造方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN102923635B, 申请日期: 2015-06-03,
弓晓晶1;  刘磊1;  邱永鑫1;  王子武1;  张锦平1;  王建峰1;  徐科1
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扫描透射电子显微镜中提高原子序数衬度像质量的方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103149228B, 申请日期: 2015-06-03,
吴东昌1;  牛牧童1;  张锦平1;  黄凯1;  张燚1;  董晓鸣1;  曾雄辉1;  徐科1
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一种扫描近场光学显微镜 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN102621351B, 申请日期: 2015-03-11,
钟海舰1;  刘争晖1;  徐耿钊1;  樊英民1;  徐科1
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光谱选择性光电探测器及其制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN102651421B, 申请日期: 2015-01-21,
张传杰1;  王建峰1;  黄增立1;  徐科1
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一种上转换荧光材料及其制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN103173221B, 申请日期: 2014-12-03,
曾雄辉1;  史建平1;  刘宗亮1;  张育民1;  王建峰1;  张锦平1;  徐科1
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材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN102353815B, 申请日期: 2014-08-27,
刘争晖1;  徐耿钊1;  樊英民1;  钟海舰1;  徐科1
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一种高倍聚光光伏电池测试系统 [专利]
专利类型: 实用新型, 专利号: 203660987U, 申请日期: 2014-06-18, 公开日期: 2014-11-27T01:37:11Z
周桃飞; 徐科; 张敏; 刘磊; 田飞飞; 郑树楠; 张志强; 顾泓
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一种等离子激元纳米激光器 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: 102664350A, 申请日期: 2014-06-11, 公开日期: 2014-11-27T02:58:08Z
黄增立; 王建峰; 徐科; 杨辉
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一种原位表征纳米线的方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: CN102539462B, 申请日期: 2014-04-16,
王志高1;  邱永鑫1;  曾雄辉1;  黄增立1;  蔡德敏1;  王建峰1;  徐科1
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一种双钙钛矿结构红色荧光粉、制备方法及应用 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: 102250616A, 申请日期: 2014, 公开日期: 2014-01-20T01:43:17Z
黄富强; 杨重寅; 徐科; 殷鑫
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一种生长纳米柱阵列的方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: 102583236A, 申请日期: 2013-12-18, 公开日期: 2014-01-20T00:51:54Z
王志高; 黄增立; 蔡德敏; 王建峰; 徐科
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微流通道及其制备方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: 102423722A, 申请日期: 2013-12-18, 公开日期: 2014-01-20
弓晓晶; 刘争晖; 徐耿钊; 钟海舰; 徐科; 杨辉
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半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法 [专利]
专利类型: 发明, 专利号: 102495043A, 申请日期: 2013-10-30, 公开日期: 2014-01-20T01:40:29Z
刘争晖; 徐耿钊; 钟海舰; 樊英民; 曾雄辉; 周桃飞; 邱永鑫; 王建峰; 徐科
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