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专利名称: 样品位错的扫描透射电镜成像方法
作者: 牛牧童1; 吴东昌1; 张锦平1; 黄凯1; 张燚1; 董晓鸣1; 曾雄辉1; 徐科1
申请受理号: 2147483647
专利授权号: CN103175856B
申请日期: 2013-03-17
授权日期: 2015-09-09
专利权人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
专利类别: 发明
部门归属: 测试分析平台
内容类型: 专利
URI标识: http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/3197
Appears in Collections:测试分析平台_专利

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样品位错的扫描透射电镜成像方法.pdf(2947KB)----开放获取View Download

作者单位: 1.中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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牛牧童,吴东昌,张锦平,等. 样品位错的扫描透射电镜成像方法. CN103175856B. 2015.
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文件名: 样品位错的扫描透射电镜成像方法.pdf
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